微機(jī)幾點(diǎn)保護(hù)測(cè)試是用來對(duì)各種繼電器（電壓、電流、功率、差動(dòng)、阻抗、頻率、中間、時(shí)間等繼電器）及其成套保護(hù)裝置進(jìn)行調(diào)試的試驗(yàn)裝置。微機(jī)繼電保護(hù)測(cè)試裝置是在參照電力部頒發(fā)的《微機(jī)型繼電保護(hù)試驗(yàn)裝置技術(shù)條件(討論稿)》的基礎(chǔ)上采用單機(jī)獨(dú)立運(yùn)行，亦可聯(lián)接筆記本電腦運(yùn)行的先進(jìn)結(jié)構(gòu)。

保護(hù)裝置的測(cè)試范圍和必要性

因?yàn)楝F(xiàn)代電網(wǎng)的結(jié)構(gòu)和運(yùn)行方式越來越復(fù)雜，所以對(duì)繼電保護(hù)產(chǎn)品的可靠性要求越來越高。因此，每一個(gè)繼電保護(hù)產(chǎn)品在出廠前都必須經(jīng)過各個(gè)環(huán)節(jié)的嚴(yán)格測(cè)試，并形成詳細(xì)的測(cè)試報(bào)告。一般，常規(guī)保護(hù)裝置的測(cè)試范圍包括以下幾點(diǎn)：①絕緣測(cè)試。②各種硬件組件的功能測(cè)試，其中包括：數(shù)據(jù)傳輸接口；LCD,LED和鍵盤接口；測(cè)量通道的校隊(duì)；通信2接口；其他。③軟件的選擇性功能測(cè)試，其中包括；啟動(dòng)值的選擇；跳閘時(shí)間的設(shè)定；定值的設(shè)定。開發(fā)過程包括下面的測(cè)試階段，其中包括：模塊測(cè)試；綜合測(cè)試；驗(yàn)收測(cè)試。

繼電保護(hù)產(chǎn)品只有通過了上述的各種測(cè)試，才能在現(xiàn)場(chǎng)得到應(yīng)用。因此，繼電保護(hù)的測(cè)試是保證繼電保護(hù)產(chǎn)品質(zhì)量，進(jìn)而保證電網(wǎng)安全運(yùn)行的必要手段。在計(jì)算機(jī)技術(shù)、微電子技術(shù)、電力電子技術(shù)飛速發(fā)展的今天，應(yīng)用最新技術(shù)成果不斷推出新型高性能繼電保護(hù)測(cè)試儀是技術(shù)進(jìn)步的必然趨勢(shì)，也是時(shí)代賦予我們的責(zé)任。

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